新一代TekDAQ 220数据采集平台发布 抗ESD与USB-C接口重塑tekscan压力分布测量系统

Tekscan 压力分布测量系统I-Scan 10正式发布

2026年10月15日，美国马萨诸塞州Norwood——Tekscan正式发布I-Scan™ 10压力分布测量系统，全新TekDAQ 220数据采集电子平台同步上市。作为tekscan压力分布测量系统的第十代产品，I-Scan 10面向工程师、科研人员与产品开发团队，用于定量测量两个接触面之间的界面压力、压力分布与产品服役性能。

图：Tekscan I-Scan 10 系统

工业现场三大测量痛点

数十年间，工程界依赖i-scan将不可见的界面压力转化为可量化云图。但随着测试环境趋严，旧平台暴露三类问题：车间电噪声与静电放电造成数据漂移；线缆接口反复弯折后接触不良；以及对新版Windows操作系统的兼容压力。I-Scan 10正是围绕这些一线痛点迭代。

新一代TekDAQ 220硬件升级

新TekDAQ 220电子平台显著增强抗电噪声与ESD防护；接口升级为USB-C并兼容USB-A转接；线缆支持现场更换，连接端采用螺丝锁定机构提升抗拉机械强度。扫描速率最高100Hz，数字压力分辨率8bit，USB总线供电（200mA/1W），工作温度-10°C至55°C。

图：TekDAQ 220 数据采集器与薄膜传感器连接特写

200+薄膜传感阵列选型

I-Scan 10完全兼容现有tekscan压力分布矩阵薄膜传感器，老用户既有传感器投资不受损失。全系列可选薄膜传感器超过200种，空间分辨率最高248感测点/cm²（1600/in²），点间距最窄0.6mm，量程上限25,000PSI（1,700bar），高温款耐受200°C，薄膜压力传感器厚度仅0.1mm，对被测表面几乎零干扰。

Tekscan 200+ 款薄膜阵列压力传感器形态

I-Scan 10软件能力进阶

I-Scan 10软件适配当前及未来Windows版本：2D/3D实时压力云图、力-时间曲线、峰值压力与重心定位、多组测试并行对比、ASCII/Excel导出。新增多瓦片校准与压力-温度多轴同屏绘图，温度映射传感器支持-50°C起的低温数据采集。

图：I-Scan 10 软件分析界面

近期科研文献应用验证

近月学术文献持续验证tekscan压力分布测量系统的可靠性：骨科生物力学研究采用I-Scan 5033/4000薄膜传感器测量耻骨联合与膝关节接触压力；国际生物力学学会（ISB）会议研究显示，Tekscan鞋垫式足底压力系统与测力板测量结果具有可比性。

多行业应用价值落地

I-Scan 10广泛服务于制造、汽车、印刷包装、半导体、航空航天与高校科研——从机械校准、工艺重复性验证，到EV电池包压力/温度同步映射、轮胎高速接地印迹分析，帮助研发团队把“看不见的接触面压力”沉淀为可追溯的设计依据。

品牌产品技术汇总表

品牌多产品应用场景与解决痛点汇总表

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